FT-IRについて

FT-IRについての質問です。

FT-IRではマイケルソン干渉計が用いられているかと思うのですが、これを使用する目的がよくわかりません。
光源光ではなく、干渉光を試料に照射することにはどういった意味があるのでしょうか？
また、干渉計を用いることにはどういったメリットがあるのでしょうか？
よろしくお願い致します。

No.1 回答者： doc_sunday 回答日時： 2009/05/31 20:59

マイケルソン干渉計は二次曲線の形をしており動きが加速度的です。

すると単一波長の光がドップラー効果で線形に波長シフトを起こします。
それにより高速で波長域(逆数にすると波数域)スキャンが可能です。
マイケルソン干渉計が使われるようになる前は臭化カリウムの大きなプリズムや回折格子が使用されていましたが、波長域を再現させるのが難しく、積分にも問題が有りました。
マイケルソン干渉計は以前はメスバウアースペクトルで頻繁に使われてきましたがその場合加速度運動装置だけが必要でした。
赤外線に応用するには反射鏡の精度を上げて反射光を常に一点に集中させる必要がありました。

この回答へのお礼

ご返答ありがとうございます。

>マイケルソン干渉計は二次曲線の形をしており動きが加速度的です。
この動きとは可動鏡のことでしょうか？
私は等速に移動していると思っていたのですが。

>波長シフトを起こします。
これは光源光から波長が変調されるということでしょうか？

>高速で波長域(逆数にすると波数域)スキャンが可能です。
これがマイケルソン干渉計を使う意味なのでしょうか？

私自身の理解が悪くて申し訳ありません。
どうしてもマイケルソン干渉計を何のために使用しているかの理解に苦しんでいます。
よろしくお願い致します。

お礼日時：2009/05/31 21:27