痔になりやすい生活習慣とは?

黄銅の表面分析にSEMとEDXを使いました。原理を調べて卒論で簡単に説明したいのですが、調べてみてもイマイチ分かりません。
結局何を検出しているのでしょうか、どのような信号を読んでCuがあるとか、わかるのですか?どなたか、詳しい方、教えて下さい。

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A 回答 (2件)

SEMは走査型電子顕微鏡。


Yahooで「SEM 電子顕微鏡」として検索してみました。
例えば、
http://www.remus.dti.ne.jp/~kkkkwing/index.html

EDXはエネルギ分散型X線分析装置。
Yahooで「分析顕微鏡」として検索してみました。
例えば、
http://www.kiyokawa.co.jp/tech/analyze/index.html

SEMは電子を当てて反射電子や二次電子を見て、サンプルの形状を見ます。
EDXはSEMやTEM(透過型電子顕微鏡)に付属していて、電子を当てた時に
出てくる特性X線を見て、元素分析を行います。SEMやTEM像と対応させて、
特定の部分の元素分析やマッピングを行うことができます。

特性X線は良いですか? 何らかの手段で原子を励起状態(電子が別の高い軌
道に移ること)にして、それがより低い状態や基底状態に落ちる時に、放出
されるX線のこと。それぞれのエネルギ準位は元素によって異なるので元素
分析ができる。

以上

この回答への補足

 どうも有難うございます。ついでにもう一つ、よろしいですか?
元素ごとに特定X線があるのは分かりましたが、
例えば、CuとSがあったとして、それぞれ特定X線がありますよね、
その個々のX線に名前はあるのでしょうか?Sは何線とか、Cuは何線とか、
『EDXで分析した結果、硫黄が検出された。』
という文ではなく、これが検出されたから、硫黄があると確認できた!
という風にしたいのです、、、
特定X線で検索しても個々の元素についての説明はなかったもので困っています。
よろしかったらお願い致します。

補足日時:2002/02/26 13:55
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> 例えば、CuとSがあったとして、それぞれ特定X線がありますよね、


> その個々のX線に名前はあるのでしょうか?Sは何線とか、Cuは何線とか、
そうです。SのKα線とか、一つの元素でも色々遷移があるので、命名の決まり
があるようです。

そういうのは図書館に行ってデータブックとかハンドブックを見ると乗ってい
ます。
Yahooで「特性X線」で検索してみました。山のように出てきたので「準位」
とか「遷移」で絞ってみましたが、あまり減りませんでした。とりあえず、
下のURLを挙げておきます。
このページから目次に戻って「特性X線の波長」-「データ」とリンクを辿ると
そのページのしたの方に元素で検索できるようになっています。しっかり見ては
いませんが、ちょっと古いデータのようです。専門家ではないのでよくは分かり
ません。web上にもあると思うので、もっと探してみるか、図書室で調べるのが良
いと思います。

色々調べてみてください。

参考URL:http://dental.senzoku.showa-u.ac.jp/dent/radiol/ …
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この回答へのお礼

どうも有難うございました。発表に間に合いそうです。

お礼日時:2002/02/26 17:18

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QEDSの半定量分析結果の使い方

EDSで元素分析を行い、その結果より大まかな組成比を知るために半定量分析を行うことがあります。その結果について、wt%あるいはatm%で表しますが、この双方の結果の使い道が分からないので教えてください(どのケースでどちらで表すと良いのか?)。

Aベストアンサー

EDS、エネルギー分散型X線蛍光分析のことでよろしいでしょうか。

wt%は重量比、atm%は原子数比(つまりモル比)ということは理解できていますでしょうか。
重量比ならば、たとえば分析したサンプルを液体サンプルにして測定する場合の想定濃度の参考にできます。
サンプル○グラム中の元素の重量が分かるわけですからね。
(液体分析の場合は、mg/Lを使うことが多いので、重量比が分かっていると分析の目安が付けやすいのです。)

原子数比ならば、そのサンプルの化合物の推測に使えます。
たとえば、Fe(鉄)とS(硫黄)が原子数比で1:1ならば、FeS(硫化鉄)だろうと推測できます。
もちろん、複雑な組成になると、この推察は難しくなります。

結果の表示方法は、相手の要求によるので一概には言えません。
上記の通り、液体分析にかけたい人なら重量比、化合物同定したい人なら原子数比が必要になると思いますし。

ちなみに、化合物の同定に用いるX線回折分析装置(XRD)に、X線蛍光の元素分析データを渡すことで化合物同定の手がかりにすることも出来ます。
(X線蛍光の分析データをそのまま受け渡す機能を持つ機種もあるくらいです。)

以上、ご参考まで。

EDS、エネルギー分散型X線蛍光分析のことでよろしいでしょうか。

wt%は重量比、atm%は原子数比(つまりモル比)ということは理解できていますでしょうか。
重量比ならば、たとえば分析したサンプルを液体サンプルにして測定する場合の想定濃度の参考にできます。
サンプル○グラム中の元素の重量が分かるわけですからね。
(液体分析の場合は、mg/Lを使うことが多いので、重量比が分かっていると分析の目安が付けやすいのです。)

原子数比ならば、そのサンプルの化合物の推測に使えます。
たとえば、Fe(鉄)とS...続きを読む

QNをkgに換算するには?

ある試験片に40kgの重りをつけた時の荷重は何Nをかけてあげると、重り40kgをつけたときの荷重と同等になるのでしょうか?一応断面積は40mm^2です。
1N=9.8kgfなので、「40kg=N×0.98」でいいのでしょうか?
ただ、式の意味がイマイチ理解できないので解説付きでご回答頂けると幸いです。
どなたか、わかる方よろしくお願いします。

Aベストアンサー

こんにちは。

kgfはSI単位ではないですが、質量の数値をそのまま重さとして考えることができるのがメリットですね。


>>>
ある試験片に40kgの重りをつけた時の荷重は何Nをかけてあげると、重り40kgをつけたときの荷重と同等になるのでしょうか?

なんか、日本語が変ですね。
「ある試験片に40kgの重りをつけた時の引っ張りの力は何Nの力で引っ張るのと同じですか?」
ということですか?

・・・であるとして、回答します。

40kgのおもりなので、「おもりにかかる重力」は40kgfです。

重力は万有引力の一種ですから、おもりにも試験片にも、地球からの重力はかかります。
しかし、試験片の片方が固定されているため、見かけ、無重力で、試験片だけに40kgfの力だけがかかっているのと同じ状況になります。

試験片にかかる引っ張り力は、

40kgf = 40kg×重力加速度
 = 40kg×9.8m/s^2
 = だいたい400N

あるいは、
102グラム(0.102kg)の物体にかかる重力が1Nなので、
40kg ÷ 0.102kg/N = だいたい400N


>>>1N=9.8kgfなので、「40kg=N×0.98」でいいのでしょうか?

いえ。
1kgf = 9.8N
ですね。


>>>一応断面積は40mm^2です。

力だけでなく、引っ張り応力を求めたいのでしょうか。
そうであれば、400Nを断面積で割るだけです。
400N/40mm^2 = 10N/mm^2 = 10^7 N/m^2
1N/m^2 の応力、圧力を1Pa(パスカル)と言いますから、
10^7 Pa (1千万パスカル) ですね。

こんにちは。

kgfはSI単位ではないですが、質量の数値をそのまま重さとして考えることができるのがメリットですね。


>>>
ある試験片に40kgの重りをつけた時の荷重は何Nをかけてあげると、重り40kgをつけたときの荷重と同等になるのでしょうか?

なんか、日本語が変ですね。
「ある試験片に40kgの重りをつけた時の引っ張りの力は何Nの力で引っ張るのと同じですか?」
ということですか?

・・・であるとして、回答します。

40kgのおもりなので、「おもりにかかる重力」は40kg...続きを読む

QX線のKαって何を意味するのでしょう?

タイトルのまんまですが、XRD、XPSなどで使われる特性X線のCu-Kα線、Mg-Kα線のKαってなにを意味するものなのでしょうか?
ちょっと気になった程度のことなので、ご覧のとおり困り度は1ですが、回答もきっとそんなに長くならないんじゃないかと思うのでだれか暇な人教えて下さい。

Aベストアンサー

ちょっとうろ覚えなんですが。。。

X線は、フィラメント(主にタングステン(W)が用いられている)から電子を取り出し(加熱で)、それをX線を発生するターゲット(アルミニウム(Al)やマグネシウム(Mg)や銅(Cu))などに電子を衝突させて発生させます。
ターゲットとなる材料の電子軌道はそのエネルギ-準位がとびとびでかつ元素によって特有の値を持ちます。電子衝突によって飛び出した電子が仮にK殻の電子であったとします。K殻は他の殻(LやM)に比べて低いエネルギーにあるので、L殻やM殻の電子は安定した状態を保とうと、K殻へ落ち込みます。このとき(K殻のエネルギー)-(L殻のエネルギー)に相当するエネルギーがあまるので、これがX線となりこのエネルギーをもつX線が発生します。

そこで、potemkineさんの質問にあるとおり、Kαとかの命名法ですが、Kに相当するものは電子が衝突して飛び出した殻を示し、αは飛び出した殻に対していくつ外側の殻から電子が飛び出したのかを示すもので、1つ上からならα、2つ上ならβ。3つ上ならγといったようにあらわします。
例えば、K殻の電子が飛び出し、そこをM殻が埋めた場合(2つ上の準位)はKβ、L殻の電子が飛び出しそこをM殻が埋めた場合はLα
ちなみに下からK殻、L殻、M殻、N殻の順番です。

エネルギーや半値幅(エネルギーの広がり)の面から一般に用いられてるX線は、AlKα、CuKα、MgKαなどです。

ちょっとうろ覚えなんですが。。。

X線は、フィラメント(主にタングステン(W)が用いられている)から電子を取り出し(加熱で)、それをX線を発生するターゲット(アルミニウム(Al)やマグネシウム(Mg)や銅(Cu))などに電子を衝突させて発生させます。
ターゲットとなる材料の電子軌道はそのエネルギ-準位がとびとびでかつ元素によって特有の値を持ちます。電子衝突によって飛び出した電子が仮にK殻の電子であったとします。K殻は他の殻(LやM)に比べて低いエネルギーにあるので、L殻や...続きを読む

QWDX(波長分散型X線分析装置)とEDX(エネルギー分散型X線分析装置)との比較について

WDX(波長分散型X線分析装置)とEDX(エネルギー分散型X線分析装置)との違いについて教えてください。
*:蛍光X線ではなくSEMに付属するものです。
WDXはEDXと違いピークの分離能がよいことはわかるのですが、感度もやはりWDXの方がよいのでしょうか??
その他、WDXとEDXの比較が乗っているサイトとかわかる方
は、大変面倒とは思いますが、教えてください。よろしくお願いいたします。

Aベストアンサー

EDX(SEM計装)しか使ったことがないので,比較ができませんが,参考URLや下記サイトが参考になるでしょうか.
http://www.muroran-it.ac.jp/mat/momo/epma/epma.html
メーカーに問い合わせるのがいいと思いますよ.
取り急ぎ.

参考URL:http://www.dent.niigata-u.ac.jp/epma/edxwdx.html

QSEM観察時のカーボン蒸着について

試料(ガラス状)の表面をSEMで観察しています。
操作マニュアルには、観察前にカーボン蒸着を施すよう書かれているのですが、その理由・原理を詳しく知りたいです。
どなたかご存知の方がいたら、宜しくお願いします。

Aベストアンサー

No.1の方の回答と同じことですが、SEM(走査型電子顕微鏡)も、EM(電子顕微鏡)も真空管と同じ原理です。

陰極からの電子線は、電子銃、ポールピース、電子レンズ、偏向板を経て試料面に照射されますが、試料面が非導電性ですと、陽極(この場合は試料面)から陰極に向かって電流が流れます。
試料面がガラス状ですと電流の流れる経路ができないために、電流の経路を作ろうとして、電子ビームがさまよって正しく像を観測できなくなります。そのために、試料面を導電性の薄膜でスパッター(真空蒸着)を行います。

良い結果を出すためにも試料つくりが一番大事だと思います。

もう古の記憶です、間違っているかも知れません。
usotsukiでした。

Q質量パーセントと重量パーセント

質量パーセントと重量パーセントの単位はそれぞれ違うのでしょうか?
mass% wt%というのがありますが、それでしょうか?
また、このmass%とwt%の違いも教えていただけませんか?

Aベストアンサー

質量パーセント濃度と重量パーセント濃度は同じで、mass%とwt%も同じことを表わします。
でも、混ぜて使ってはいけません。
「質量」とmass%を使うほうが望ましいと思います。

QEPMAとEDX

EPMAとEDXの違いが分かりません。
ともに、定性、定量、マッピングなどが出来ると思いますが、測定原理などが大きく異なるのですか?

Aベストアンサー

EPMAは英語で書くとElectron Probe MicroAnalysisです。つまり電子を
入射して分析を行うという意味です。検出するのは特性X線です。

特性X線の波長(=エネルギー)は元素によってすべて異なります。
したがって,特性X線の波長が分かれば電子線が照射された元素の種類が
同定できるわけです。ただし1つの元素が放出する特性X線は,通常
1種類ではありません。元素にはK殻,L殻,M殻,・・・というように
エネルギーレベルの異なる様々な電子軌道が存在しますので,それぞれの
軌道の発生する特性X線は異なります。複数の元素が存在する場合には
これらの特性X線が重なりあうように放出されますので,波長が近い場合
には,元の元素を特定するのが難しくなります。そのため,複数の元素比
などを求めたい場合には,1つの元素が放出する複数の特性X線を用いる
必要があります。

特性X線は光と同じ電磁波です。ですから分光が可能です。分光結晶を
プリズムのように用いれば,波長の異なる特性X線の放出角度が変えられ
ます。この位置情報を検出器で計測するのがWDSまたはWDXと呼ばれる
手法(波長分散型分光)です。検出したい元素によって検出器の角度を
変えなければなりませんが,特性X線が重なり合うように放出されても
精度よく分解できますので,定量性に優れ,微量な元素や軽元素の検出
に威力を発揮します。ただし測定には時間がかかります。狭義では,
WDSだけをEPMAと呼ぶ場合がありますが,原理と英語の意味を考えれば,
WDSとEDSはどちらもEPMAと呼んで差し支えありません。

波長にプランク定数を乗算するとエネルギーとなりますので,波長では
なくて,エネルギーを検出することでも特性X線を放出した元素の種類が
分かります。これがEDSまたはEDXと呼ばれる手法(エネルギー分散型
分光)です。WDSのようなデータの信頼性はありませんが,一度に多くの
元素を同定でき,測定時間も比較的短いので,2次元的な元素マップなど
の定性的な分析に威力を発揮します。WDSのように分光結晶や回転機構
などの特殊な装置が不要で,通常のSEMに検出器をつけただけで測定
できるという手軽さも利点でしょう。

EPMAは英語で書くとElectron Probe MicroAnalysisです。つまり電子を
入射して分析を行うという意味です。検出するのは特性X線です。

特性X線の波長(=エネルギー)は元素によってすべて異なります。
したがって,特性X線の波長が分かれば電子線が照射された元素の種類が
同定できるわけです。ただし1つの元素が放出する特性X線は,通常
1種類ではありません。元素にはK殻,L殻,M殻,・・・というように
エネルギーレベルの異なる様々な電子軌道が存在しますので,それぞれの
軌道の発生する特性X線...続きを読む

QEDXについて

現在研究でEDXを使ったX線分析をしているのですが、EDX使用時どうして液体窒素を補充する必要があるのでしょうか?もしよろしければその詳細を教えてください。

Aベストアンサー

>かなりの熱が生じるのでしょうか?

いえ、アンプ自体にそれほどの発熱は無いと思います。
熱ノイズは導体や半導体素子中の電子の不規則な運動から生じるのですが、
常温であってもそれなりにノイズがのりますので、それを強力に冷却することで
徹底的に抑えているのだと思います。

近年では液体窒素を必要としないEDXも開発されたというお話を聞きました。
これはシリコンドリフト検出器という新しい検出器をペルチェ素子で
冷却すると言う構成になっているそうです。
軽元素の検出では従来の検出器にやや劣るそうですが、液体窒素を
調達できない環境下では活躍しそうです。

>EDXのスペクトルは結構精度が低いと文献で見たのですが、
>やはり低いのでしょうか?

私の経験上では、無機物の定量測定において±2%程度の誤差は
仕方ないと考えました。
また1%以下の軽元素は検出できないと思います。
これはノイズが大きいことと、スペクトルのピークの半値幅が広いために
複数の元素のピークが重なってしまうことが主な理由です。
定性測定であれば、特に問題はないと思います。

EDXより精度の高い測定を行える装置としてWDXがあります。
EDXはエネルギー分散型X線元素分析装置の略で、
WDXは波長分散型X線元素分析装置の略になります。

EDXではX線のエネルギー値ごとにカウント数を割り振って測定をしますが、
WDXではまずX線を分光して、特定の波長ごとにX線の強度を測定します。
そのためシャープなピークを持つスペクトルが得られます。
無機物であれば±1%以内で定量が可能だと思います。

>かなりの熱が生じるのでしょうか?

いえ、アンプ自体にそれほどの発熱は無いと思います。
熱ノイズは導体や半導体素子中の電子の不規則な運動から生じるのですが、
常温であってもそれなりにノイズがのりますので、それを強力に冷却することで
徹底的に抑えているのだと思います。

近年では液体窒素を必要としないEDXも開発されたというお話を聞きました。
これはシリコンドリフト検出器という新しい検出器をペルチェ素子で
冷却すると言う構成になっているそうです。
軽元素の検出では従来の検出器...続きを読む

Qエクセルで計算すると2.43E-19などと表示される。Eとは何ですか?

よろしくお願いします。
エクセルの回帰分析をすると有意水準で2.43E-19などと表示されますが
Eとは何でしょうか?

また、回帰分析の数字の意味が良く分からないのですが、
皆さんは独学されましたか?それとも講座などをうけたのでしょうか?

回帰分析でR2(決定係数)しかみていないのですが
どうすれば回帰分析が分かるようになるのでしょうか?
本を読んだのですがいまいち難しくて分かりません。
教えてください。
よろしくお願いします。

Aベストアンサー

★回答
・最初に『回帰分析』をここで説明するのは少し大変なので『E』のみ説明します。
・回答者 No.1 ~ No.3 さんと同じく『指数表記』の『Exponent』ですよ。
・『指数』って分かりますか?
・10→1.0E+1(1.0×10の1乗)→×10倍
・100→1.0E+2(1.0×10の2乗)→×100倍
・1000→1.0E+3(1.0×10の3乗)→×1000倍
・0.1→1.0E-1(1.0×1/10の1乗)→×1/10倍→÷10
・0.01→1.0E-2(1.0×1/10の2乗)→×1/100倍→÷100
・0.001→1.0E-3(1.0×1/10の3乗)→×1/1000倍→÷1000
・になります。ようするに 10 を n 乗すると元の数字になるための指数表記のことですよ。
・よって、『2.43E-19』とは?
 2.43×1/(10の19乗)で、
 2.43×1/10000000000000000000となり、
 2.43×0.0000000000000000001だから、
 0.000000000000000000243という数値を意味します。

補足:
・E+数値は 10、100、1000 という大きい数を表します。
・E-数値は 0.1、0.01、0.001 という小さい数を表します。
・数学では『2.43×10』の次に、小さい数字で上に『19』と表示します。→http://ja.wikipedia.org/wiki/%E6%8C%87%E6%95%B0%E8%A1%A8%E8%A8%98
・最後に『回帰分析』とは何?下の『参考URL』をどうぞ。→『数学』カテゴリで質問してみては?

参考URL:http://ja.wikipedia.org/wiki/%E5%9B%9E%E5%B8%B0%E5%88%86%E6%9E%90

★回答
・最初に『回帰分析』をここで説明するのは少し大変なので『E』のみ説明します。
・回答者 No.1 ~ No.3 さんと同じく『指数表記』の『Exponent』ですよ。
・『指数』って分かりますか?
・10→1.0E+1(1.0×10の1乗)→×10倍
・100→1.0E+2(1.0×10の2乗)→×100倍
・1000→1.0E+3(1.0×10の3乗)→×1000倍
・0.1→1.0E-1(1.0×1/10の1乗)→×1/10倍→÷10
・0.01→1.0E-2(1.0×1/10の2乗)→×1/100倍→÷100
・0.001→1.0E-3(1.0×1/10の3乗)→×1/1000倍→÷1000
・になります。ようするに 10 を n 乗すると元の数字になるた...続きを読む

QSEMのstigma調整って何ですか

SEMを使うとき、高倍率でみるときに像が流れていかないようにstigmaを調整すると聞きました。
でも、なぜ像が流れるのか、stigmaを調整するとは具体的に何をしているのかがわかりません。
詳しく図解しているサイトなどあれば教えてください。

Aベストアンサー

非点収差調整 = stigma調整 です。

電子ビームは磁場のレンズで収束させますが、X方向とY方向とで収束に差があることを非点収差と言います。

構造(2.4項、図7、図8を参照)
(pdfファイル)
http://tech-staff.yz.yamagata-u.ac.jp/kyozai/fe-sem/SEM-EDS.pdf

調整方法(ムービーで解説)
http://tech-staff.yz.yamagata-u.ac.jp/kyozai/gakunai/semstepupmovie.htm


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