No.3ベストアンサー
- 回答日時:
発振回路は、通常ハイインピーダンスですので、50Ωというようなローインピーダンスの機器を接続するなど、とんでもないことです。
せっかく発振していても、プローブを当てた途端に、発振強度は弱まり、悪くすれば発振停止するかもしれません。
発振停止しないまでも、周波数は大幅に変わります。
では、ハイインピーダンスプローブならどうか、ということになりますが、ハイインピーダンスプローブだと、今度はプローブ自体が抱えている並列Cが影響してきます。
(回路に影響ない程度のCなら問題ない。プローブ自体の並列Cは本体に明記してあるはず。→Z=1/(2πfC)でチェックする)
一般には、バッファー段の後にプローブを当てるのが望ましいですが、どうしても発振段で観測したければ、発振器の出力側に入れます。
(入力側より影響が小さい)
この場合でも、わかるのは発振しているかどうかくらいであり、正確な発振周波数や強度の測定ではない、と考える方が無難です。
No.4
- 回答日時:
皆さんが答えているように,普通のプローブを当てたら特性変わります.水晶の発振を測定するとありますが,発振の何を測るのでしょうか?起動時間?周波数?出力レベル?...
何を測るかによっても対応方法が変わると思います.出力レベルを測るのであれば,バッファーをつける必要があるでしょう.起動時間や,周波数であれば,ピックアップコイルを使った測定や低容量のコンデンサを直列につないで測定することも出来るかもしれませんし,FETプローブも使えすかもしれません.
大体この程度の仕様のものの何を測るかを明確にすれば,測定器メーカにも相談できるでしょう.
No.2
- 回答日時:
抵抗に関してはNo.1さんの言う通りです。
悪いことに、通常のオシロのプローブは通常10~20pFの容量があり、これが原因で周波数が変わったり、発振が止まったりします。
低容量のプローブを使えばいいのですが、
通常は、水晶の付近はプローブでさわらずに、バッファ等を通した後を測定すると思うのですが。
例えばCMOSインバータで発振しますが、もう一段インバータを通した後を測定するということです。
No.1
- 回答日時:
50Ω・・・・・あの・・低負荷だと水晶の発振に接続すると
プローブに電気食われるので・・正確な測定はでませんよ
数MΩ以上とかの高インピーダンスで測定しないと回路に
悪さしますよ
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