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電解効果トランジスタのリーク電流は実測出来ないという話を聞きました。
ゲートとドレインに電流計をつけたとしてもドレインとゲートの間に流れるリーク電流はソースから流れてきた電流と区別がつかないため、
実測出来ないそうなのですが、
本当なのでしょうか?
よくトランジスタの記事などでは低リーク電流を謳っているものを見かけますが、あれはどうやって測定しているものなのでしょうか?

A 回答 (2件)

> 電解効果トランジスタのリーク電流は実測出来ないという話を聞きました。


始めて聞きました.
どんな人が言ったんでしょうか?

半導体の測定方法については,米国ではJEDEC
http://www.jedec.org/

日本ではJEITAが決めてます.
http://www.jeita.or.jp/japanese/index.cgi

HOME > JEITA規格 > 電子デバイス部門 > 半導体<個別半導体>関係
と来て,ここで「ED-4561A」を見ます.(閲覧のみ可能)
http://www.jeita.or.jp/cgi-bin/standard/list.cgi …

p.44とp.46にリーク電流測定回路が載ってます.

なお,詳しく知りたければ,測定器メーカーの資料を見ます.
ここで「Semiconductor Device Test Applications Guide」を申し込めば郵送してくれます.
http://www.keithley.jp/knowledgecenter
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電解効果トランジスタと言う珍種のトランジスタで、内部で電気分解されてしまうのでリーク電流が測定できないのでしょう。



電界効果トランジスタなら普通に測定できますが。
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この回答へのお礼

お礼が遅れてしまい、申し訳ありません。

ありがとうございます。

No1さんの教えてくださったページを見てみましたが、いまいちどういう方法で測定するのか分かりませんでした。

出来ればわかりやすく解説して頂けないでしょうか?

お礼日時:2009/08/01 19:50

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