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X線はレントゲン撮影に代表されるように非常に物質透過性が高い波長の光です。
一方で、X線はXRDに代表されるように、物質の構造解析によく用いられます。
これは物質の再表面で回折して跳ね返って来た光の強度を検出するものです。

この2つX線の性質は相反するように思えるのですが、
これはレントゲン撮影に用いられるX線とXRDに用いられるX線の波長が異なるためなのでしょうか?
それともXRDに用いられる試料はレントゲン撮影で影に写るような透過性の低いものに限られるということなのでしょうか?

A 回答 (1件)

XRDは名前のように回折現象を利用しています。

跳ね返りと言うより、波の緩衝作用です。

XRDでも大部分のX線は透過しています。普通、透過X線は非常に強く、測定の邪魔になるので、センサーに入らないように、遮蔽しています。

レントゲン撮影では、対象物質に応じて、様々な波長のX線を使いますし、波長に一定の幅があっても本質的な問題は生じませんが、XRDでは特定の波長のX線を使う必要があります。
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