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アルミ電解コンデンサの加速試験をする場合、通電状態と無通電状態では結果が変わるのでしょうか。

A 回答 (1件)

当然大きく変わります。



半導体のTHBやHASTをしていた経験がありますが、電子部品は全般的に通電と無通電では挙動がまったく異なり、故障メカニズムも故障箇所もすべて変わってきます。

さらにいうなら、通電の仕方によっても(印加パターンで)変わってきます。

寿命試験は実際にアプリケーションに適用する印加パターン、もしくはそれに類似するパターンで、温湿度のみ変えて行うのが一般的です。
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