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試料(ガラス状)の表面をSEMで観察しています。
操作マニュアルには、観察前にカーボン蒸着を施すよう書かれているのですが、その理由・原理を詳しく知りたいです。
どなたかご存知の方がいたら、宜しくお願いします。

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A 回答 (3件)

No.1の方の回答と同じことですが、SEM(走査型電子顕微鏡)も、EM(電子顕微鏡)も真空管と同じ原理です。



陰極からの電子線は、電子銃、ポールピース、電子レンズ、偏向板を経て試料面に照射されますが、試料面が非導電性ですと、陽極(この場合は試料面)から陰極に向かって電流が流れます。
試料面がガラス状ですと電流の流れる経路ができないために、電流の経路を作ろうとして、電子ビームがさまよって正しく像を観測できなくなります。そのために、試料面を導電性の薄膜でスパッター(真空蒸着)を行います。

良い結果を出すためにも試料つくりが一番大事だと思います。

もう古の記憶です、間違っているかも知れません。
usotsukiでした。
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この回答へのお礼

電子線の流れについての説明を頂き、No.1の方の説明が、さらに補完されたと思います。
ありがとうございました。

お礼日時:2003/12/26 08:55

帯電防止です。


カーボン蒸着してても、明るさのむらが
できるでしょ。そこが帯電してるんですね。
カーボンの蒸着がよくないと、部分的に
明るい部分が残ったりすると思います。

 カーボン蒸着してないと、試料全体が
帯電してよく見えなくなるはずです。
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この回答へのお礼

明るさのムラが帯電に起因しているのを始めて知りました。
原因が分かると、同じ観察でもより深く行えそうです。
ありがとうございました。

お礼日時:2003/12/26 08:51

SEMでは加速電子を試料に当てて飛び出してきた2次電子を検出します。


このとき、加速電子によって試料は帯電します。そうするとcontrastが異常になり、像もぼやけてしまいます。
したがってこれを避けるために試料表面にごく薄い導電層をCやAuなどでつくり電荷を逃がしています。
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この回答へのお礼

像のコントラストに直接関わることなのですね。
原理を知らずに、導電層を設けずに観察したこともありましたが、全てやり直そうとおもっています。
ありがとうございました。

お礼日時:2003/12/26 08:53

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Qエクセル STDEVとSTDEVPの違い

エクセルの統計関数で標準偏差を求める時、STDEVとSTDEVPがあります。両者の違いが良くわかりません。
宜しかったら、恐縮ですが、以下の具体例で、『噛み砕いて』教えて下さい。
(例)
セルA1~A13に1~13の数字を入力、平均値=7、STDEVでは3.89444、STDEVPでは3.741657となります。
また、平均値7と各数字の差を取り、それを2乗し、総和を取る(182)、これをデータの個数13で割る(14)、この平方根を取ると3.741657となります。
では、STDEVとSTDEVPの違いは何なのでしょうか?統計のことは疎く、お手数ですが、サルにもわかるようご教授頂きたく、お願い致します。

Aベストアンサー

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で標本データの時はSTDEVを使って、母集団の時はSTDEVPをつかうことになります。
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Q「ご連絡いたします」は敬語として正しい?

連絡するのは、自分なのだから、「ご」を付けるのは
おかしいのではないか、と思うのですが。
「ご連絡いたします。」「ご報告します。」
ていうのは正しい敬語なのでしょうか?

Aベストアンサー

「お(ご)~する(いたす)」は、自分側の動作をへりくだる謙譲語です。
「ご連絡致します」も「ご報告致します」も、正しいです。

文法上は参考URLをご覧ください。

参考URL:http://www.nihongokyoshi.co.jp/manbou_data/a5524170.html

QSEMのstigma調整って何ですか

SEMを使うとき、高倍率でみるときに像が流れていかないようにstigmaを調整すると聞きました。
でも、なぜ像が流れるのか、stigmaを調整するとは具体的に何をしているのかがわかりません。
詳しく図解しているサイトなどあれば教えてください。

Aベストアンサー

非点収差調整 = stigma調整 です。

電子ビームは磁場のレンズで収束させますが、X方向とY方向とで収束に差があることを非点収差と言います。

構造(2.4項、図7、図8を参照)
(pdfファイル)
http://tech-staff.yz.yamagata-u.ac.jp/kyozai/fe-sem/SEM-EDS.pdf

調整方法(ムービーで解説)
http://tech-staff.yz.yamagata-u.ac.jp/kyozai/gakunai/semstepupmovie.htm

QEPMAとEDX

EPMAとEDXの違いが分かりません。
ともに、定性、定量、マッピングなどが出来ると思いますが、測定原理などが大きく異なるのですか?

Aベストアンサー

EPMAは英語で書くとElectron Probe MicroAnalysisです。つまり電子を
入射して分析を行うという意味です。検出するのは特性X線です。

特性X線の波長(=エネルギー)は元素によってすべて異なります。
したがって,特性X線の波長が分かれば電子線が照射された元素の種類が
同定できるわけです。ただし1つの元素が放出する特性X線は,通常
1種類ではありません。元素にはK殻,L殻,M殻,・・・というように
エネルギーレベルの異なる様々な電子軌道が存在しますので,それぞれの
軌道の発生する特性X線は異なります。複数の元素が存在する場合には
これらの特性X線が重なりあうように放出されますので,波長が近い場合
には,元の元素を特定するのが難しくなります。そのため,複数の元素比
などを求めたい場合には,1つの元素が放出する複数の特性X線を用いる
必要があります。

特性X線は光と同じ電磁波です。ですから分光が可能です。分光結晶を
プリズムのように用いれば,波長の異なる特性X線の放出角度が変えられ
ます。この位置情報を検出器で計測するのがWDSまたはWDXと呼ばれる
手法(波長分散型分光)です。検出したい元素によって検出器の角度を
変えなければなりませんが,特性X線が重なり合うように放出されても
精度よく分解できますので,定量性に優れ,微量な元素や軽元素の検出
に威力を発揮します。ただし測定には時間がかかります。狭義では,
WDSだけをEPMAと呼ぶ場合がありますが,原理と英語の意味を考えれば,
WDSとEDSはどちらもEPMAと呼んで差し支えありません。

波長にプランク定数を乗算するとエネルギーとなりますので,波長では
なくて,エネルギーを検出することでも特性X線を放出した元素の種類が
分かります。これがEDSまたはEDXと呼ばれる手法(エネルギー分散型
分光)です。WDSのようなデータの信頼性はありませんが,一度に多くの
元素を同定でき,測定時間も比較的短いので,2次元的な元素マップなど
の定性的な分析に威力を発揮します。WDSのように分光結晶や回転機構
などの特殊な装置が不要で,通常のSEMに検出器をつけただけで測定
できるという手軽さも利点でしょう。

EPMAは英語で書くとElectron Probe MicroAnalysisです。つまり電子を
入射して分析を行うという意味です。検出するのは特性X線です。

特性X線の波長(=エネルギー)は元素によってすべて異なります。
したがって,特性X線の波長が分かれば電子線が照射された元素の種類が
同定できるわけです。ただし1つの元素が放出する特性X線は,通常
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Qエクセルで計算すると2.43E-19などと表示される。Eとは何ですか?

よろしくお願いします。
エクセルの回帰分析をすると有意水準で2.43E-19などと表示されますが
Eとは何でしょうか?

また、回帰分析の数字の意味が良く分からないのですが、
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回帰分析でR2(決定係数)しかみていないのですが
どうすれば回帰分析が分かるようになるのでしょうか?
本を読んだのですがいまいち難しくて分かりません。
教えてください。
よろしくお願いします。

Aベストアンサー

★回答
・最初に『回帰分析』をここで説明するのは少し大変なので『E』のみ説明します。
・回答者 No.1 ~ No.3 さんと同じく『指数表記』の『Exponent』ですよ。
・『指数』って分かりますか?
・10→1.0E+1(1.0×10の1乗)→×10倍
・100→1.0E+2(1.0×10の2乗)→×100倍
・1000→1.0E+3(1.0×10の3乗)→×1000倍
・0.1→1.0E-1(1.0×1/10の1乗)→×1/10倍→÷10
・0.01→1.0E-2(1.0×1/10の2乗)→×1/100倍→÷100
・0.001→1.0E-3(1.0×1/10の3乗)→×1/1000倍→÷1000
・になります。ようするに 10 を n 乗すると元の数字になるための指数表記のことですよ。
・よって、『2.43E-19』とは?
 2.43×1/(10の19乗)で、
 2.43×1/10000000000000000000となり、
 2.43×0.0000000000000000001だから、
 0.000000000000000000243という数値を意味します。

補足:
・E+数値は 10、100、1000 という大きい数を表します。
・E-数値は 0.1、0.01、0.001 という小さい数を表します。
・数学では『2.43×10』の次に、小さい数字で上に『19』と表示します。→http://ja.wikipedia.org/wiki/%E6%8C%87%E6%95%B0%E8%A1%A8%E8%A8%98
・最後に『回帰分析』とは何?下の『参考URL』をどうぞ。→『数学』カテゴリで質問してみては?

参考URL:http://ja.wikipedia.org/wiki/%E5%9B%9E%E5%B8%B0%E5%88%86%E6%9E%90

★回答
・最初に『回帰分析』をここで説明するのは少し大変なので『E』のみ説明します。
・回答者 No.1 ~ No.3 さんと同じく『指数表記』の『Exponent』ですよ。
・『指数』って分かりますか?
・10→1.0E+1(1.0×10の1乗)→×10倍
・100→1.0E+2(1.0×10の2乗)→×100倍
・1000→1.0E+3(1.0×10の3乗)→×1000倍
・0.1→1.0E-1(1.0×1/10の1乗)→×1/10倍→÷10
・0.01→1.0E-2(1.0×1/10の2乗)→×1/100倍→÷100
・0.001→1.0E-3(1.0×1/10の3乗)→×1/1000倍→÷1000
・になります。ようするに 10 を n 乗すると元の数字になるた...続きを読む

QEDSの半定量分析結果の使い方

EDSで元素分析を行い、その結果より大まかな組成比を知るために半定量分析を行うことがあります。その結果について、wt%あるいはatm%で表しますが、この双方の結果の使い道が分からないので教えてください(どのケースでどちらで表すと良いのか?)。

Aベストアンサー

EDS、エネルギー分散型X線蛍光分析のことでよろしいでしょうか。

wt%は重量比、atm%は原子数比(つまりモル比)ということは理解できていますでしょうか。
重量比ならば、たとえば分析したサンプルを液体サンプルにして測定する場合の想定濃度の参考にできます。
サンプル○グラム中の元素の重量が分かるわけですからね。
(液体分析の場合は、mg/Lを使うことが多いので、重量比が分かっていると分析の目安が付けやすいのです。)

原子数比ならば、そのサンプルの化合物の推測に使えます。
たとえば、Fe(鉄)とS(硫黄)が原子数比で1:1ならば、FeS(硫化鉄)だろうと推測できます。
もちろん、複雑な組成になると、この推察は難しくなります。

結果の表示方法は、相手の要求によるので一概には言えません。
上記の通り、液体分析にかけたい人なら重量比、化合物同定したい人なら原子数比が必要になると思いますし。

ちなみに、化合物の同定に用いるX線回折分析装置(XRD)に、X線蛍光の元素分析データを渡すことで化合物同定の手がかりにすることも出来ます。
(X線蛍光の分析データをそのまま受け渡す機能を持つ機種もあるくらいです。)

以上、ご参考まで。

EDS、エネルギー分散型X線蛍光分析のことでよろしいでしょうか。

wt%は重量比、atm%は原子数比(つまりモル比)ということは理解できていますでしょうか。
重量比ならば、たとえば分析したサンプルを液体サンプルにして測定する場合の想定濃度の参考にできます。
サンプル○グラム中の元素の重量が分かるわけですからね。
(液体分析の場合は、mg/Lを使うことが多いので、重量比が分かっていると分析の目安が付けやすいのです。)

原子数比ならば、そのサンプルの化合物の推測に使えます。
たとえば、Fe(鉄)とS...続きを読む

Q波長(nm)をエネルギー(ev)に変換する式は?

波長(nm)をエネルギー(ev)に変換する式を知っていたら是非とも教えて欲しいのですが。
どうぞよろしくお願いいたします。

Aベストアンサー

No1 の回答の式より
 E = hc/λ[J]
   = hc/eλ[eV]
となります。
波長が nm 単位なら E = hc×10^9/eλ です。
あとは、
 h = 6.626*10^-34[J・s]
 e = 1.602*10^-19[C]
 c = 2.998*10^8[m/s]
などの値より、
 E≒1240/λ[eV]
となります。

>例えば540nmでは2.33eVになると論文には書いてあるのですが
>合っているのでしょうか?
λに 540[nm] を代入すると
 E = 1240/540 = 2.30[eV]
でちょっとずれてます。
式はあっているはずです。

QXRDの単位について

実験でXRDを使用しておりますが、縦軸の「intensity」の意味がよくわかりません。どのような原理でintensityを出しているのでしょうか?合わせて、その単位である「count」「cps」についてもその意味を教えていただきたいと思います。どなたか回答をお願いいたします。

Aベストアンサー

intensityは回折されたX線の強度ですが、ここでは光子を計数管で数えているようなので、X線光子数と考えてよいでしょう。
一般に、スペクトルの縦軸は観測される光やイオンなどの強度や数に対応します。
UV-visのような古典的なものから、マススペクトルにいたるまで。
XRDは横軸エネルギーではないのでスペクトルというのか良く分かりませんが。
countはX線光子のカウント数、cpsは"count per second"で1秒当たり何個の光子が検出器に入ったかのことでしょう。

QX線回折(XRD)分析の半値幅について

現在粉末用のXRD装置を使用しているのですが、半値幅に含まれる情報に関して教えてください!
参考書などを呼んでいると、結晶性のピークに着目した場合、ピークの半値幅が大きくなるほど結晶子サイズは小さいことを意味すると書いてあり、これはなんとなくわかりました。
しかし、非結晶性のものを測定すると一般的にはブロードピークとなるものが多いかと思うのですが、相互関係がわかりません・・・。非結晶性のものは結晶子サイズが小さいということではないですよね?

段々結晶子サイズが小さくなっていった時に、少しづつピークはブロードに近づくとは思うのですが、
・結晶子サイズが小さくなっている
というのと、
・非結晶性のものである
というものの区別はどうやって判断したらよいのですか?ある程度は半値幅を超えたら非結晶性のものとかいう基準があるのでしょうか?

Aベストアンサー

半値幅から微結晶サイズを求めるシェラーの式は、固体中にある
微結晶のサイズを求めるための式です。適用できる微結晶サイズは
nmオーダから0.1μmまでの範囲です。この点に注意してください。

さて微結晶サイズが小さくなると半値幅はサイズに反比例して拡がり、
ピークはだんだん鈍くなります。さらに小さくなるとブロードで
ガラス等による散乱パターンに似たものになることも有ります。

ピークの拡がりは、1)結晶が十分な大きさで無いこと、2)結晶に
欠陥があるか、または空間的な規則性が低いか、3)装置による制約
から来ます。
原因3)は基準物質を使い補正計算をしてある程度除去することが
できます。
原因1)の影響を考慮したのがシェラーの式ですが、常に原因2)の寄与
も含まれています。
原因2)は小さくても結晶で有れば散乱強度を決める構造因子は定まります。
ここで構造因子に欠陥や小さくなることで発生した構造の乱れを組込めば
非晶性の広がったハローを再現できるかも知れません。
しかし、非晶性物質では構造の乱れは大きすぎ、結晶学的な構造因子は
もう決められません。
その代わりに、原子の相互配置を確率的に表した動径分布関数が散乱強度
の計算に導入されます。
一つの物質からの散乱強度の計算に、ここまでは構造因子方式、ここからは
動径分布関数方式という使い分けはされていません。

したがって、結晶子サイズが小さくなっているというのと、非結晶性の
ものであるということの明確な境界は無いように見えます。
当然、ある半値幅を超えたら非結晶性のものとかいう基準は有りません。

溶融体を急冷して結晶化させようとした場合、できたモノを欠陥だらけの
極微細結晶からなるとするか、非晶質になったと解釈するかは半値幅だけ
からはできないと思います。

半値幅から微結晶サイズを求めるシェラーの式は、固体中にある
微結晶のサイズを求めるための式です。適用できる微結晶サイズは
nmオーダから0.1μmまでの範囲です。この点に注意してください。

さて微結晶サイズが小さくなると半値幅はサイズに反比例して拡がり、
ピークはだんだん鈍くなります。さらに小さくなるとブロードで
ガラス等による散乱パターンに似たものになることも有ります。

ピークの拡がりは、1)結晶が十分な大きさで無いこと、2)結晶に
欠陥があるか、または空間的な規則性が低...続きを読む

Q自分が相手に相談したい時は「相談」or「ご相談」?

ビジネスの場において
自分が相手に相談したい時に
「ご相談なのですが、、、」

「相談なのですか、、、」
とどちらが敬語として正しいですか?

相手から相談された場合なら
「ご相談いただきありがとうございます。」などと言うので
自分が相手にした時に
「ご相談」だと自分の動作を丁寧にしてる気がするので
なんとなく不自然な感じがします。

よろしくお願いします。

Aベストアンサー

相談する人が相手なら、ご相談お受けいたします。

自分が相談するなら、相談させていただいてもよろしいでしょうか。

自分のする行為には御をつけないでOKだと思います。


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