質問失礼いたします。

無機材料の単結晶X線回折による結晶構造解析に関してです。

結晶系が立方晶の試料では、結晶構造解析がほかの晶系と比べて非常に難しいと聞きました。
これまでは粉末X線回折しか行ったことがないのですが、私としては対称性が高く回折ピーク(反射)が少ないぶん、解析は容易になるイメージでいました。

もしよろしければ、単結晶X線回折において立方晶系の解析が困難な理由についてご教授いただけないでしょうか。

(目的は、単結晶による未知構造の結晶構造解析です。)

質問者からの補足コメント

  • ご回答いただき、誠にありがとうございます。

    また質問になってしまうのですが、ここでいう場合の数、というのは何を指すのでしょうか。

    サイト数や各イオンの占有サイトの数という事であれば、場合の数が増えると結晶構造を絞り込むまでの道筋が増えてしまうために、構造を精密化するまでの手間が増えるということではないのでしょうか?

    度々申し訳ありませんが、何卒よろしくお願いいたします。

      補足日時:2017/07/11 22:02

A 回答 (2件)

レスありがとうございます。


>場合の数が増えると結晶構造を絞り込むまでの道筋が増えてしまうために、構造を精密化するまでの手間が増える
おっしゃる通りですが、経験の差かな。大昔は複雑になると「地獄」でしたが、CPUの能力がメガ倍などになってしまったために、手間が掛かる方が「間違いが起こり得ない」ので嬉しいのです。
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この回答へのお礼

御回答、ありがとうございます。

なるほど、得心しました。より正確な結晶構造の導出を考えれば、確かに場合の数が多いほど情報量も多くなるため、より詳細な(真値に近い)精密化が可能になるという事ですね。
作業量の観点からばかり考えており、恥じるばかりです。

とても丁寧にご回答いただき、誠にありがとうございました。
必要であれば別の手法による評価も視野にいれて、解析に挑みたいと思います。

お礼日時:2017/07/13 19:47

>対称性が高く回折ピーク(反射)が少ないぶん、解析は容易になる


これはとんでもない誤解で、ピークは多ければ多いほど計算し易いのです。場合の数が多いからです。
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