トランジスタのテスターによる調査について 添付写真のような回路のトランジスタがある時、テスターによる

トランジスタのテスターによる調査について

添付写真のような回路のトランジスタがある時、テスターによる調査方法を教えて下さい。
宜しくお願いします

質問者からの補足コメント

• すみません、トランジスタではなく、FETのようです。
  FETの上で、テスターでの調査方法をを教えて下さい

    補足日時：2024/03/31 14:57

• 度々、補足すみません。。
  添付写真の回路図はIGBTパワーモジュールの回路図です。
  部品自体の良否判定をしたいのですが、テスターで端子間抵抗値を測定し、良否判定できないでしょうか？
  大体で構いません。
  
  以上、お願いします

    補足日時：2024/03/31 16:38

No.1 回答者： lv4u 回答日時： 2024/03/31 13:11

図の素子は、トランジスターではなくて、FETだと思われます。

No.2 回答者： hectopascal 回答日時： 2024/03/31 13:26

コレクタ、エミッタ、あれこれ、

トランジスタではないかなあ

No.3 回答者： isoworld 回答日時： 2024/03/31 13:57

トランジスターの記号をもっと正確に書いてください。

No.4 回答者： yucco_chan 回答日時： 2024/03/31 15:15

何の調査をしたいのですか？

その内容次第で、方法が違いますし、
テスターでは調査できない項目もあります。

No.5 回答者： kanta2006 回答日時： 2024/03/31 15:42

その記号が正しい記号なら、FETでもトランジスタでもありません。

(両方であるとも言えますが)
その記号はIGBTの記号です。

https://techweb.rohm.co.jp/product/power-device/ …

No.6 回答者： yucco_chan 回答日時： 2024/03/31 17:37

>テスターで端子間抵抗値を測定し

「否」の一部の故障モードは分かりますが、
良否判定（良である事）は分かりません。

No.7 回答者： kanta2006 回答日時： 2024/03/31 18:36

良否判定のうち、分かるとすればショート故障や絶縁破壊などの、明らかな故障モードだけは分かりますが、良品であると判定する事は、テスターでは出来ません。

No.8 ベストアンサー 回答者： denden_kei 回答日時： 2024/03/31 19:58

>テスターで端子間抵抗値を測定し、良否判定できないでしょうか？

あくまでも現場レベルの簡易判断です。
複数の同じ型式の端子間で抵抗値（特にゲートエミッタ間）を比較して、他と違う素子はほぼ100%壊れています。大体は短絡、稀に抵抗値無限大。
此れで異常が見られなくても壊れているケースは否定できませんが、モジュール実装状態で簡易に判定ができるので現場では重宝されています。