半導体 故障率とFIT数

未だ市場実績のない半導体に対し、
（各ピン）故障率・Fit数はどのように求めればいいのでしょうか?

全く知識が無いため困っています。
例でも結構ですので、ご回答の程よろしくお願い致します。

No.2 ベストアンサー 回答者： apple-man 回答日時： 2004/11/21 01:35

＞未だ市場実績のない半導体に対し、

　Fit値の基礎データは、半導体メーカーが
環境試験等から出しているものですから
市場実績は関係ありません。

　故障率は使用温度により変わってきますが、
Fit値に温度の係数をかけて故障率を
求める方法、算出式は半導体の構造に
より変わってくるので、Fit値とともに
その計算式もメーカーに問い合わせれば
教えてくれるはずです。
　NECならホームページで各半導体の
Fit値と計算式を公表しています。
富士通とかモトローラ、フィリップスは
代理店経由などで問い合わせないと
ダメだったと思います。

No.1 回答者： student2003 回答日時： 2004/11/20 16:08

信頼性試験を実施して信頼性特性値を推定します。

様々な試験法があります。
アイテムが経時変化することを基本的考え方として、故障発生アイテムが計測開始時点の母集団に
対して、時間とともにどれだけ発生しているか
と、累積で故障済みアイテムがどう増大するかについて、観測データから確率密度関数のパラメータを推定します。
アイテムの物理的特性と環境条件に応じて、さまざまな
経時発生の様相がありえ、その確率密度分布がいかなるものかを表現力豊かなモデルを使い、パラメータを推定するためのいろいろな技法があります。詳しくは、信頼性工学の成書やウエブ資料を参照ください。

参考URL：http://www.semicon.toshiba.co.jp/prd/common/data …