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シリコンの基板上の膜の分析を行いたいと思っています。IRを使っているのですが、全くピークが出ませんでした。シリコンは赤外線を透過する性質があると聞いたのですが、測定する上で何か工夫する必要があるのでしょうか?ちなみに膜の厚さは数百ナノ程度で、シリコン基板の厚さは2mm程度です。

A 回答 (1件)

低抵抗のシリコン基板はキャリヤ吸収で赤外光(の一部)を透過しません。



どのくらいの抵抗率のウエハーですか?

数kΩcmのウエハーならばいいかと思います。
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