ES-10000Gで高さが違うスキャンの仕方

実装基板をES-10000Gでスキャンし、検査で使用したいのですが、
チップ部品とか、ＬＳＩ、ＢＧＡだけなら良いのですが、ソケットやコネクタ等１cm以上高さのある部品があれば、高い方にピントがあい、チップ部品等の低い部品のピントがぼやけてしまいます。
カメラだと焦点距離を選べれますが、ガラス面から離れたところにピントを合わせることは出来るのでしょうか？

エプソンに問い合わせしようにも、中古で買ったものでして、ユーザ登録等していないので、質問していません。

分かりにくい内容ですが、よろしくお願いします。

画像を添付します。

No.1 回答者： hirama_24 回答日時： 2013/03/13 16:43

しょーがないです。

方法はありませんよ、ガラス面でしかピントが合わないんだから
ＣＣＤスキャナなので１ｃｍぐらいの余裕はありますが

こーいう時はデジカメで撮影しましょう

この回答へのお礼

回答ありがとうございます。

お礼日時：2013/03/15 07:43

No.2 回答者： Hoyat 回答日時： 2013/03/13 16:52

>ガラス面から離れたところにピントを合わせることは出来るのでしょうか？

出来ません。
平面原稿を効率よく読む為だけに作っているのがスキャナーですので、お考えの用途には用途には全く向きません。
デジカメで撮るしか方法はありません。

この回答へのお礼

回答ありがとうございます。

お礼日時：2013/03/15 07:43

No.3 ベストアンサー 回答者： nijjin 回答日時： 2013/03/13 17:29

おそらく上空から撮影するタイプでないと無理です。

NOVAC Simply Scan A3 Ver.2.0
http://www.novac.co.jp/products/hardware/nv-capt …

この回答への補足

今は無理ですが、紹介されているスキャナ検討しようと思います。

補足日時：2013/03/25 08:28

この回答へのお礼

回答ありがとうございます。

お礼日時：2013/03/15 07:42