電子部品の信頼性に試験時間について

　電子部品の信頼性試験に関係している者です。試験の時間についてその設定根拠が判りません。その根拠あるいは記載されていると思われる書籍を教えてください。
（質問）　
　長期信頼性試験をおこなうとき，ＪＩＳ規格では，試験の時間として”1000時間”という時間が良く出てきます。（例：高温で部品を放置する等）
　1000時間という時間が決められた根拠あるいは経緯が記載されていると思われる書籍・雑誌等を教えてください。
　

No.1 回答者： fitto 回答日時： 2004/01/11 23:33

電子部品の信頼性試験の根拠はアメリカ　ＭＩＬ規格に準拠して決められたと認識しています。

ＭＩＬ規格に関する書籍を読むとわかるかもしれません。

なお、信頼性試験は加速試験です。
高温1000時間放置などは実使用に対しどのくらい加速しているのか加速係数を求めるのも楽しいです。

半導体メーカなどは信頼性に対しハンドブックなどを提供しています。
この、信頼性ハンドブックなどを熟読するとある程度見えてくるものと思います。

東芝信頼性ハンドブック
http://www.semicon.toshiba.co.jp/prd/common/data …

参考URL：http://www.semicon.toshiba.co.jp/prd/common/data …

この回答へのお礼

早速回答をいただきありがとうございました。
ＭＩＬ等を調べてみます。

お礼日時：2004/01/14 21:13