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よくICの信頼性試験データなどで、
熱衝撃試験 サンプル数N=52、異常判定0
高温動作試験 N=30 異常判定0
のような試験データがありますが、このサンプル数の根拠ってなんでしょうか?

ある母数(製造ロット)に対して何かしらの計算で決定されるものなのか?
試験規格MILやJISでN=○以上、と決められているものなのか?

このサンプル数決定の方法を教えてもらえますでしょうか?
カスタムでICを起こしたときに上記のような信頼性試験を実施するにあたり、何個以上のサンプルを用いることがベターなのか判らないため、相談させてもらいました。

A 回答 (2件)

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一つ一つ測定して行って誤差が少なくなっていくから、だいたい誤差範囲が一定だなってなったときに試験は終了です

「ある部品の試験サンプル数の決定方法につい」の回答画像1
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