二次イオン質量分析(SIMS)・蛍光X線分析・X線光電子分光法(XPS)オージェ電子分光法の原理、方法、どんな分野でどんな応用を、特徴、定性分析、定量分析、補正について教えてください。

A 回答 (4件)

 元素の分析に関して(表面分析関連?)知りたいようなのですが、私の知っている、蛍光X線に関して答えさせていただきます。


 蛍光X線は(ここにあげた)他の分析に対し、比較的バルクの分析が出来る元素分析装置です。色々な分野への応用が考えられますが、特に多いのは、無機物(鉄鋼やコンクリート)関係での定量が多いのでは無いでしょうか。
 昔は、波長分散型というタイプがほとんどだったので、前記のような分野だったのですが、最近は、エネルギー分散型も多くなり(卓上型のは大体そうです)、異物の分析や、石油中の硫黄の分析などにも結構使われるようになって来たようです。
・・・やはり、質問が抽象的なので、長くなってしまいますね。
yukittiさん、何か聞きたいことがあれば、書き込んで下さい。
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丸善発行


日本化が区会
実験化学講座
機器分析(放射分析?)

あたりを適当に読めばわかりませんか。応用と補正以外は載っていますから。
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質問が漠然としすぎていて、答えにくいですね。

関連があるとしたら、機器分析だということくらいですね。オージェとXPSは表面分析で兄弟的関係だけど、SIMSは表面分析といってもまったくちがうし。蛍光X線分析はバルク分析だし・・・。質問の目的を絞ってもらえませんか?
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 ご質問の意図は何でしょうか。

二次イオン質量分析(SIMS),蛍光X線分析,X線光電子分光法(XPS),オージェ電子分光法の間に直接の関連はありませんが,試験対策か何かでしょうか。

 それでしたら,まづ分析化学の教科書などをご覧になって,もう少し具体的にご質問になった方が良いと思います。説明の程度にもよりますが,上記のものそれぞれで1冊の成書ができるぐらいの分量にもなります。

 いかがでしょうか。必要なら補足下さい。
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