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先日、走査型電子顕微鏡によりアルミナの表面を観察し、撮影する実験を行いました。
その結果、写真はなんとか撮ることができましたが、やはり、というか、先輩などのお手本にくらべるとどうしても見劣りしてしまいました。
焦点や光量はしっかりと調整したつもりだったのですが。

走査型電子顕微鏡でよりよく試料を観察でき、よりよい写真を撮影するするためにはどのようなことに気をつけて操作すれば良いのでしょうか?
アドバイスをお願いいたします。

A 回答 (2件)

こんにちは。


STEM(STM)ではなく、普通のSEMですよね?

以下、私の経験からの、SEM観察の手順(鉄則)です。

1.前準備として、フラッシングをして、時を待つ。

2.観察する場所そのものでなくて、ちょっとだけ離れた場所で、これでもかというぐらい、STIGMA調整をしつこく行う。(全く揺れないようにする。)勿論、観察する倍率よりも高い倍率でです。

3.観察する場所に移動して、素早くフォーカスを合わせ、素早く撮影する。

こんな感じです。
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この回答へのお礼

回答ありがとうございます。

STEMでなく普通のSEMでした。
sanoriさんのアドバイスを参考に、よりよい写真が取れるよう努力します。

お礼日時:2008/07/01 23:06

 質問者さんは大学などの何らかの教育機関に在籍しているのでしょう?


 そういう恵まれた環境で学んでいるのでしたら、
こんなところで助けを求めるようなことをしないで、
先輩達や指導教官に聞くことは出来ないのですか?
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この回答へのお礼

はい、大学に通っております。
私はまだ2年なので、あまり見知った教授や先輩が居なかったためなかなか訊きにくく、ここで質問させていただきました。

ですがsus303の仰る通りですよね、明日にでも実験の担当の教授に質問に言ってみようと思います。
回答ありがとうございました。

お礼日時:2008/07/01 23:10

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