トランジスタ 系統図の見方（写真添付）

教えてください

上記タイトルの内容です
（初心者なので意味不明な質問になると思いますので先にごめんなさい）

ＩＧＢＴモジュール（発電機についてました）
このトランジスタの故障判定をテスターで行う方法が知りたいのです

色々検索したところ、ベース、コレクタ、エミッタの導通を計測すれば良いと出ました
（エミッタに流れるのはわかりました）

そこで、テスターで図ろうとしましたが、端子？の名称にはＢもＣもＥもありませんでした

どのような見方をすれば良いでしょうか？

ちなみに、「トランジスタの内部構造を理解すれば～」は勘弁してください
死んでしまいます

そんな単純なモノではないことはわかっていますが
「この端子がこれ！」と、単純に理解するようなことはできないでしょうか？
（ＰとＮはＭ４のナットでとまり、他の端子はコネクターに差し込む感じです）

１つ・・・２つぐらいの流れ方の例や、
ココとココは絶縁されていないとおかしいなどわかるようなことがあれば
教えてください

宜しくお願いします

No.3 ベストアンサー 回答者： KEN_2 回答日時： 2012/06/12 19:30

ＩＧＢＴモジュールの故障判定をテスターで行う方法で簡単に判断する方法は、短絡モードの破壊判定程度です。

他のオープンモードや特性不良は外部に試験回路を追加して４個のＧＢＴ素子を判定することになります。

＞１つ・・・２つぐらいの流れ方の例や、
＞ココとココは絶縁されていないとおかしいなどわかるようなことがあれば
＞教えてください
　　↑　↑
ＰとＮの短絡故障モードと上下のＧＢＴ素子の短絡モード判定は可能です。
　先に回答の通りテスタのリードを入れ替えて抵抗を測ります。
ちなみに、Ｐはコレクタに相当し、以下
Ｎはエミッタ
ＵとＶは上のエミッタ、下のコレクタ
ＧｕＰ・ＧｖＰ、ＧｕＮ・ＧｕＮはゲートです。
（バイポーラトランジスタのベース相当ですが、絶縁されたゲートです。）
＊ゲートは静電気で動作しますので、人体の静電気を逃がして各端子間をシヨートして静電気を逃がしてからＰＮＵＶ間の短絡モードの破壊判定を実施してください。

この回答へのお礼

解りやすい説明ありがとうございました
色々試してみたいと思います

お礼日時：2012/06/13 14:32

No.2 回答者： sailor 回答日時： 2012/06/12 19:20

通常のバイポーラトランジスタのようにテスターでの導通検査では無理ですね。

というのもＩＧＢＴはＦＥＴとバイポーラトランジスタをひとつの半導体素子として構成したものですので。バイポーラトランジスタのベースにあたる部分にはＦＥＴが構成されていますので、絶縁された構造になっています。

ＩＧＢＴの意味を調べてみると判るかと思いますが、インシュレーテッド　ゲート　バイポーラ　トランジスタ　の頭文字ですので、文字通りゲートが絶縁されています。したがってバイポーラトランジスターのような導通試験では良否の判断はできません。

細かく言えば間違いですが、ダーリントントランジスタって知っていますか？ひとつの半導体ない内部にダーリントン接続された負たるのトランジスタを作りこんだ構造なのですが、ＩＧＢＴではこのトランジスタのうちベース側にあるほうをＦＥＴに置き換えたようなものと考えればわかりやすいかもしれませんね。当然ながらベースに当たる端子はＦＥＴですからゲート端子は絶縁されていますのでテスターで導通検査することは無理ですね。

この回答へのお礼

ありがとうございます
ＦＥＴなるものを勉強します

お礼日時：2012/06/13 09:16

No.1 回答者： misawajp 回答日時： 2012/06/12 18:13

テスタでの良否判定はほとんど不可能です

短絡と断線なら何とかわかるかもしれませんが、確実なことはなんともいえません

全ての端子間を　テスタのリードを入れ替えて（極性を変えて)　抵抗を測ります
通常は、極性によって抵抗が変わります
両方向とも導通/断線なら　故障の可能性が高い　ですが　確実なことはなんと言えません
（原理がわかっている者がきちんと行っても断定はできません、まして　その知識も無いものが行うのですから擾乱にしかならないでしょう）

この回答へのお礼

早急な回答ありがとうございます
やはり難しいのですね＾＾；

お礼日時：2012/06/13 09:10