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- 回答日時:
Siの典型的なPLスペクトルは、たとえば
M.Tajima, Jpn. J. Appl. Phys. 16(1977),2263
M.Tajima, Jpn. J. Appl. Phys. 16(1977),2265
M.Tajima, Appl. Phys. Lett. 32(1978),719
に掲載されています。
PLスペクトルには、半導体内の様々な情報が含まれて
います。特に間接遷移型のSiの場合、励起子やフォノン
が関与する現象による発光が主となるため、原理の理解
には、これら半導体物理の理解が必要です。
これに関する教科書としては、
P.Y.ユー/M.カルドナ著「半導体の基礎」シュプリンガー
フェアラーク東京
をお勧めします。(7章でPLが取り上げられています)
測定法等の実験技術に関しては、あまりまとまった本が
無かったのですが、検索したところ今年の5月に刊行された
光物性研究会 組織委員会編「光物性の基礎と応用」
オプトロニクス社
が、内容目次を見る限りではいいかも知れません。
まだ入手していませんので、申し訳ありませんが、
中身はご自分でご確認ください。
PL測定装置は、ホリバ・ジョバンイボンなどから購入
できるようですが、大学の研究室では自作しているところ
が多いのではないかと思います。
装置は主に
1)励起光源(通常はレーザー)
2)集光系(レンズ、ミラー等)
3)分光器
4)ディテクター
5)サンプル冷却系(クライオスタット)
6)データ収集系
から構成されています。
SiのPL測定をする場合、測定波長域が近赤外と
なり、化合物半導体のPL測定に一般的に用いられる
Si系のディテクター(CCD等)が感度の問題で使用
困難です。したがって、InGaAsやGe等でできた
ディテクターを用意する必要があります。
参考)
「光物性の基礎と応用」の詳細目次
http://www.optronics.co.jp/books/bookinfo/bookda …
ホリバ・ジョバンイボンの製品のページ)
http://www.jp.jobinyvon.horiba.com/product_j/pl/ …
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