FT-IR(透過法)のベースラインがずれる理由

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質問者：kanakotti
質問日時：2007/10/22 06:47
回答数：2件

FT-IR(透過法)で試料を測っていますが、試料によってベースラインが変わってしまって困っています。少し調べたところ、試料の光散乱の影響とありましたがいまいち意味がわかりません。
どなたか分かりやすくおしえていただけませんか？
よろしくお願いします。

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回答 (2件)

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No.1ベストアンサー

回答者： mako-bu
回答日時：2007/10/22 12:43

試料はどのような形状ですか？KBrなどで打錠しているのでしょうか？それとも溶液で測定されていますか？気相で測定ですか？

KBrなどで打錠しているのであれば、成型物の厚み、密度が異なっているのが原因ではないでしょうか？透過長が異なれば、吸収、散乱度合いが変わって、ベースラインが違ってきます。また、セルの位置がずれていませんか？

溶液や気相の場合は、セルがずれていたり、測定器の機械的問題があるかもしれません。こちらの場合は、装置の確認をされてはいかがでしょうか。

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No.2

回答者： swisszh00
回答日時：2007/10/22 20:16

(1)FT-IR, Touka-hou ha hakaru sample-ryo ga

tabun oosugiru hazu desu.
(2) FT-IR no signal o mite signal ga ooki-sugireba sono sample-ryo ha ooki sugimasu.
(3) Sample ga oosugireba Base-line mo tuyoi hazu desu.
(4) FT-IR, ATR de hakareba sampling ga kantan desu.
Good luck from Swiss !