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トランジスタのテスターによる調査について

添付写真のような回路のトランジスタがある時、テスターによる調査方法を教えて下さい。
宜しくお願いします

「トランジスタのテスターによる調査について」の質問画像

質問者からの補足コメント

  • すみません、トランジスタではなく、FETのようです。
    FETの上で、テスターでの調査方法をを教えて下さい

      補足日時:2024/03/31 14:57
  • 度々、補足すみません。。
    添付写真の回路図はIGBTパワーモジュールの回路図です。
    部品自体の良否判定をしたいのですが、テスターで端子間抵抗値を測定し、良否判定できないでしょうか?
    大体で構いません。

    以上、お願いします

      補足日時:2024/03/31 16:38

A 回答 (8件)

>テスターで端子間抵抗値を測定し、良否判定できないでしょうか?


あくまでも現場レベルの簡易判断です。
複数の同じ型式の端子間で抵抗値(特にゲートエミッタ間)を比較して、他と違う素子はほぼ100%壊れています。大体は短絡、稀に抵抗値無限大。
此れで異常が見られなくても壊れているケースは否定できませんが、モジュール実装状態で簡易に判定ができるので現場では重宝されています。
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良否判定のうち、分かるとすればショート故障や絶縁破壊などの、明らかな故障モードだけは分かりますが、良品であると判定する事は、テスターでは出来ません。

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>テスターで端子間抵抗値を測定し



「否」の一部の故障モードは分かりますが、
良否判定(良である事)は分かりません。
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その記号が正しい記号なら、FETでもトランジスタでもありません。


(両方であるとも言えますが)
その記号はIGBTの記号です。

https://techweb.rohm.co.jp/product/power-device/ …
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何の調査をしたいのですか?


その内容次第で、方法が違いますし、
テスターでは調査できない項目もあります。
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トランジスターの記号をもっと正確に書いてください。

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コレクタ、エミッタ、あれこれ、


トランジスタではないかなあ
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図の素子は、トランジスターではなくて、FETだと思われます。

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