性格悪い人が優勝

http://www.george24.com/~fg5veren/circuit-diagra …
上記HPの回路図をご覧下さい。

・このような環境で基板Xを何百枚も検査します(電圧確認検査)。
・指定の場所(未記入)の電圧を測るためにのみ基板Xに電源が供給されます。
(単に電源を供給するのみで機能検査は行わない)
・検査中、基板Xは270mAほど電流を食っていました。
・電源投入時の突入電圧はオシロ測定で24V程度でした(2.5ms/divで確認)。
・電源投入時の突入電流は測定していません。
・RYL1の接点はソフトによりON/OFFします(1回/分程度)。
・RYL1とD0の型番は忘れました。
・直接導線によって電源供給がなされるのはZ1,C41,C45です。

このような環境下で基板Xを10枚程度検査すると、
なぜかリレーK1が接点故障を起こしてしまいます。
検査装置の電源をOFFしてK1を外してみると4,6,8pinがショートとなっていました。
軽く数回たたくと元に戻りますが、検査を再開するとまたすぐに同様の接点故障が起きます。
リレーK1を丁寧に分解して構造を見てみると接点間はかなり距離が近く、
また、4,13pinから出ている接触棒?は各々2つずつありました。
4pinから出ている片方の接触棒がNC接点ともう片方の接触棒がNO接点とショートしていました。

電流や電圧の容量の問題かと思い、
リレーK1を容量のもう少し大きな似たような
別のタイプに変更してみましたが
やはり同様の現象が起こって接点が不良となってしまいました。
(こちらも接触棒が2つずつあるタイプでした)

回路的に問題があると思われるのですが、何がいけないのでしょうか?
コイルに使用する電源と接点を通して基板Xに供給する電源を
同じものにしていることが原因でしょうか?
もしそうだとしたら何故いけないのでしょうか?

なお、リレーK1のデータシートは
http://panasonic-denko.co.jp/ac/download/control …
から確認できます(型番は回路図の通り)。

以上、お暇な時にご回答よろしくお願い申し上げます。

A 回答 (12件中11~12件)

ざっと見ただけですが、接点に並列にコンデンサーがあります。


そりゃ無理だ・・・
制限コイルを入れ(その場合はバリスタもいる)る。制限抵抗でも

この回答への補足

すみません、知識不足なもので。。。
制限コイル、制限抵抗の入れ方のイメージが湧きません。。。
直列に入れると基板に行く前に電圧降下して24Vがかからないような。。。
分かってないです。すみません。

補足日時:2010/02/07 18:43
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C41,C42,C45の合計910uFを充電するときの突入電流により


元電源の能力にもよりますが、少なくとも10A、へたすると
100Aクラスの電流が流れて、そのエネルギーにより
リレー接点が溶着しています。

元電源の能力を制限するか、
(元電源のOUT側に入っているコンデンサにも注意を払う必要がある)、
なんらかの電流制限手段を入れるか、
リレーを巨大なものにするか、
もしくは半導体スイッチにする。

この回答への補足

K1-8pinとZ1のカソード間に直列に適度なポリスイッチを入れたらいかがでしょうか?
過電流保護といったらポリスイッチかと思ったのですが。。。

K1-8pinと16pin間(24Vの+-間)にバリスタやツェナーを入れても意味はない?
これらは確か過電圧保護ですよね?

補足日時:2010/02/07 18:39
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