X線回折測定に関して

私は高分子関係の勉強をしている学生ですが，この度ある高分子試料のX線回折測定（広角）を行うことになったのですが，これまで私の研究室では5度から35度の範囲で回折測定を行ってきています．なぜその角度範囲で測定を行ってきたのかわかりません．X線に関してくわしいかた教えてください．

No.1 回答者： noname#21649 回答日時： 2003/09/05 04:56

本当は.研究室の先生に聞いた方が早いのですが.

角度は.各面間距離に対応していることは.ご存知ですね。

研究対象としている高分子資料の面間距離がこの間に対応しているから

です。５度というと.ちょっと間違えると直接光を受けてしまう（受光器を壊すことがある）ので.計りたくない角度です。