高周波アンプのゲインと挿入損失を分離するためにはどのような測定を行えばよいでしょうか？

VNAを使用して，高周波アンプ（MHz帯域）の挿入損失を測定したいです。
S21を測定すればよさそうですが，ゲインと挿入損失を分離できないように思います。

それぞれを分離するためにはどのような測定を行えばよいでしょうか？

No.2 ベストアンサー 回答者： seiji91 回答日時： 2024/04/08 17:41

ノイズとの分離ですよね。

ゲインを振るか、入力パワーを振る。

No.1 回答者： angkor_h 回答日時： 2024/04/08 15:51

挿入損失と言うのは、概ね、

インピーダンスの不整合による損失を言います。
信号源、受け取る側、各々のインピーダンスから計算できます。
受け取る側、つまり、アンプのゲインは設計や回路から確認できます。