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XRDについて教えてください。
普段用いているXRDではθ-2θ法、線源CuKα(波長λ=1.54056Å)で測定しています。一方、精密測定のためにS/N比の高い高性能なXRD装置を用いて、上記のXRDで測定した試料と同一の試料を波長λ=0.7000Åで設定して測定しました。
当然ながら、設定した波長λが異なるので、λ=1.54056→λ=0.7000となったことで、プロファイルは全体的に左へシフトしました。この左へシフトした分を理論的に正確に右にシフトさせる、つまり、波長をλ=1.54056として測定してえられた回折プロファイルに変換することは可能でしょうか。回答よろしくお願いします。
(このようなことを望む理由は、λ=0.7000で得たXRDパターンと数多く存在する様々な作成条件で得られた試料のXRDパターン(λ=1.54056で測定)とを比較し、違いを見てみたいからです。)
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