粉末X線でわかること

粉末X線でわかることはどういったことでしょうか。
単結晶X線回折のように構造決定は可能でしょうか。

よろしくお願いします。

No.3 ベストアンサー 回答者： leo-ultra 回答日時： 2006/08/23 13:49

測定できる量は散乱角２θと強度です。

使用したＸ線の波長と２θから、格子面の間隔（距離）がわかります。しかし格子面の指数については情報はありません。

むしろ結晶構造をいろいろ仮定して、その回折パターンを一番よく説明する構造が実際の構造だという作業になります。

結論として、構造決定は可能です。

むしろ、格子定数の精密な測定などの構造決定には、単結晶Ｘ線回折よりもリートベルト法などを用いた粉末Ｘ線回折の方がより正確な値を得ることができると聞きました。

この回答へのお礼

ご回答ありがとうございました。
結晶構造を仮定して実際の回折パターンと比較するというのがNo.2の方がおっしゃる「面倒な計算」ということと理解しました。

単結晶X線回折ができないときに粉末X線回折をするという認識は誤りのようですね。

お礼日時：2006/08/23 15:17

No.4 回答者： mojio-kun 回答日時： 2006/08/24 00:09

得られる情報はすでに回答されているので省略しますが、一般によく行われるのは構成元素が既知の場合、JCPDSカードに記載されているX線回折パターンと照合することで物質の同定（結晶構造の決定）が成されます。

更に、JCPDSカードに記載されているピーク以外にもピークがある場合、照合した結晶形以外にも結晶形が存在することになりますので、それらを同定することで、どのような多結晶体なのか分かります。
また、ピークの半価幅や積分幅から結晶子径を求めることも出来ます。

この回答へのお礼

ご回答ありがとうございました。
なんとなくどういったものかイメージすることができました。
自分の実験に有効そうなので、検討してみます。

また質問させていただくかも知れませんが、そのときもご回答いただけると助かります。

お礼日時：2006/08/25 11:54

No.2 回答者： noname#21649 回答日時： 2006/08/23 03:10

できないことはないですが.かなり面倒な計算が待っています。

単結晶が求められない試料(単結晶の構造は既知)で偏析がある場合等の偏りの割合を求めるなんて場合ですから。

この回答へのお礼

ご回答ありがとうございました。
「かなり面倒な計算」、、、測定すらしたことがない素人には難しいものという印象を受けました。
ある物質の溶液中と固体中の状態を調べています。
IRは現在測定中なのですが、粉末X線はどうなのだろうと思いまして質問させていただきました。

お礼日時：2006/08/23 15:12

No.1 回答者： tane_tane_tane 回答日時： 2006/08/23 00:14

２θが分かるので、

構造が分かっている物の
不純物等の測定に使用するのでは。
単結晶でないと構造は分からないと思います。
多分ですが・・・

この回答へのお礼

ご回答ありがとうございました。
単結晶のX線回折はよくやっているのでなじみがあるのですが、粉末X線はまったく。。。
成分は分かっているのですが、構造が分からないものを測定しようと思っています。

お礼日時：2006/08/23 15:08